レーザー干渉計にZygo社の6インチVFA(Verifire Asphere)を使用し、λ/40を保証します。(平面:3面合せ法、球面:二球面法を使用)スティッチング法により軸対称非球面レンズ、及び高NAレンズの面精度計測を実現します。スティッチング法を用いて、高NAシリンドリカルレンズの面精度を広範囲に保証します。また、干渉計によるヌル計測が不可能な特殊形状においては、超高精度三次元測定機(UA3P)により、50nm以下の精密な計測保証を行います。
レーザー干渉計(ZYGO:Verifire Asphere)
| 計測原器 | λ/20以下 |
|---|---|
| 測定再現性 | λ/300以下 |
| 測定分解能 | λ/8000以下 |
| 測定サイズ | 最大φ300mm |
干渉計による非球面レンズ測定
軸対称非球面レンズ精度 PV20nm≒λ/30(φ28mm)
超高精度三次元測定機(Panasonic:UA3P-5)
| 測定分解能 | 1nm |
|---|---|
| 測定精度 | 50nm(傾斜角度30°以下) |
| 測定再現性 | 3σ < 10nm |
| 測定サイズ | 最大φ200mm |


