光線集光とコリメートの特性を持ち、照明光学系から結像光学系、高精度から汎用精度(リーズナブル)まで幅広い用途に使用できます。一般ガラスから結晶体材料まで高速研磨方式により、高品質の安定供給を実現しました。芯取加工においては、Z値の小さい形状にも対応可能です。面精度計測では、レーザー干渉計を用いて2球面計測法によりTS原器精度以上の計測保証を実現します。
高精度 | 標準精度 | 汎用精度 | |
サイズ | φ0.5 – φ300mm | ||
材質 | 一般光学ガラス、合成石英、低熱膨張ガラス、Si、CaF₂ | ||
曲率半径公差 | < ±1Fr | < ±5Fr | < ±10Fr |
面精度 | < λ/10 | < λ/2 | < 2λ |
表面粗さ | < RMS 0.3nm | < RMS 1nm | — |
直径公差 | 0 / -0.01mm | 0 / -0.05mm | 0 / -0.1mm |
肉厚 | ±0.01mm | ±0.1mm | ±0.2mm |
偏芯 | < 30秒 | < 3分 | < 5分 |
外観精度(S/D) | ISO10110-7/MIL-0-13830に対応可能 | ||
アプリケーション | UV光学系 半導体 レーザ加工 |
可視光学系 結像 | 赤外光学系 センサー |
その他 | オリフラ、外周段付け、穴開け、軸外し、同軸円メニス(シェル)形状 その他球面+シリンダーなど1つの素子に複合した形状も対応可能。 |