夏目光学の品質保証 - 3つの柱
品質保証
quality assurance
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夏目光学は、光学部品の製造において、長年にわたり培ってきた技術とノウハウを活かし、高品質な製品を安定的に供給しています。
その品質保証体制は、以下の3つの柱で構成されています。
strict manufacturing standards
厳しい製造基準の設定
夏目光学はISO9001の取得に加え、自社で独自に定めた厳しい製造基準を設けています。
この基準は、製品の品質を保証するために、材料の購入から製造工程、検査に至るまで、あらゆる段階で徹底的に遵守されています。
Training of skilled engineers
熟練した技術者の育成
夏目光学は、熟練した技術者の育成にも力を入れています。
定期的な研修や教育を通じて、技術者の技能と知識を向上させ、高品質な製品の製造を支えています。
advanced measurement equipment
高度な測定装置の導入
夏目光学は、最新の検査設備を導入し、製品の品質を徹底的に検査しています。 この測定装置は、製品の表面状態や微細な形状誤差まで検出することができ、高精度な品質保証を実現しています。
夏目光学はこれらの品質保証体制を通じて、お客様に満足いただける製品を提供しておりますが、何より心がけているのはお客様との信頼関係の構築です。常にお客様の声に耳を傾け、ニーズに応えることで、長期的なパートナーシップを築いていくことを目指しています。
夏目光学は、お客様の視点に立ち、品質を追求する企業であり続けます。
Main measuring device
おもな測定装置
Equipment list
設備一覧
| 測定項目 | 測定機名 | 最新設置型式 | メーカー | 分解能 | 特長 |
| 面粗さ | NewView | NewView9000 | zygo | 0.1nm以下 | 白色干渉法をLED光源を用いることで研磨面・研削面も高精度に測定が可能 |
| 形状精度 | 干渉計 | VeryFire | zygo | λ/50 | 1000R以上を縦型で測定が出来る (横置きだと製品を保持治具の影響があるが縦置きは保持治具がほぼ不要 |
| 形状精度 | 干渉計 | Åpre SCI搭載型 | Åpre | λ/20 | FUJINON干渉計を光学系以外を改造平面・プリズム等の裏面反射をSCI(Spectrally Controlled Interferometry)方法にて分離・測定が可能 |
| 形状精度 | 干渉計 | OptoFlat | interOptics | λ/20 | 低コヒーレンス緩消法を用いて裏面反射を防止して高精度に測定が可能 |
| 偏芯 | 透過／反射偏芯測定器 | OptiCentric | TriOptics | 0.2μm | φ0.5mm以上のレンズを透過・反射で高精度に偏芯評価、組み込みレンズ評価が可能 |
| 角度 | 角度測定 | PrismMaster SHR | TriOptics | 0.2秒以下 | デジタルエンコーダーを用いてプリズム角度を0.01秒単位で測定が可能 |
| 光学特性 | 分光光度計 | Cary7000 | Agilent Technologies | 175～3300nm 角度可変反射 | 短波長から長波長域までの測定が可能 角度を可変可能でより使用用途角度に近いかたちでの評価が可能 |
| 光学特性 | 精密屈折計 | KPR-3000 | 島津デバイス製造 | 屈折率1.2～2.28 測定精度±0.0002 | 硝子屈折率測定が可能 d線からe線までの5種類の波長にて評価が可能 プリズムにする必要があり。 |
| 形状精度 | SmartScope | SmartScope ZIP250 | OGP | 0.001mm | 投影にて正確にプリズム等の角度・寸法の測定が可能 |
| 形状精度 | LuphoScan | LuphoScan 260 HD | TalorHobson | ±50nm | 非球面・自由曲面・を干渉スキャンシステムを用いて高速で評価が可能 |
| 外観精度 | マイクロスコープ | デジタルマイクロスコープVHX-8000 | キーエンス | 20倍～2500倍 | 官能的に判断していた外観不具合を数値で評価することでより正確に・個人のスキルでの偏りが無い評価が可能 |
※ 表は横にスクロールできます。
| 測定項目 | 測定機名 | 最新設置型式 | メーカー | 分解能 | 特長 |
| 面粗さ | NewView | NewView9000 | zygo | 0.1nm以下 | 白色干渉法をLED光源を用いることで研磨面・研削面も高精度に測定が可能 |
| 形状精度 | 干渉計 | VeryFire | zygo | λ/50 | 1000R以上を縦型で測定が出来る (横置きだと製品を保持治具の影響があるが縦置きは保持治具がほぼ不要 |
| 形状精度 | 干渉計 | Åpre SCI搭載型 | Åpre | λ/20 | FUJINON干渉計を光学系以外を改造平面・プリズム等の裏面反射をSCI(Spectrally Controlled Interferometry)方法にて分離・測定が可能 |
| 形状精度 | 干渉計 | OptoFlat | interOptics | λ/20 | 低コヒーレンス緩消法を用いて裏面反射を防止して高精度に測定が可能 |
| 偏芯 | 透過・反射偏芯測定器 | OptiCentric | TriOptics | 0.2μ | φ0.5mm以上のレンズを透過・反射で高精度に偏芯評価、組み込みレンズ評価が可能 |
| 角度 | 角度測定 | PrismMaster SHR | TriOptics | 0.2秒以下 | デジタルエンコーダーを用いてプリズム角度を0.01秒単位で測定が可能 |
| 光学特性 | 分光光度計 | Cary7000 | Agilent Technologies | 175～3300nm 角度可変反射 | 短波長から長波長域までの測定が可能 角度を可変可能でより使用用途角度に近いかたちでの評価が可能 |
| 光学特性 | 精密屈折計 | KPR-3000 | 島津デバイス製造 | 屈折率1.2～2.28 測定精度±0.0002 | 硝子屈折率測定が可能 d線からe線までの5種類の波長にて評価が可能 プリズムにする必要があり。 |
| 形状精度 | SmartScope | SmartScope ZIP250 | OGP | 0.001mm | 投影にて正確にプリズム等の角度・寸法の測定が可能 |
| 形状精度 | LuphoScan | LuphoScan 260 HD | TalorHobson | ±50nm | 非球面・自由曲面・を干渉スキャンシステムを用いて高速で評価が可能 |
| 外観精度 | マイクロスコープ | デジタルマイクロスコープVHX-8000 | キーエンス | 20倍～2500倍 | 官能的に判断していた外観不具合を数値で評価することでより正確に・個人のスキルでの偏りが無い評価が可能 |
