電子顕微鏡は、光の代わりに電子を使って物を拡大して見ることができる特別な顕微鏡です。
電子は光よりも波長が短いので、光学顕微鏡よりもはるかに細かい部分まで見ることができます。
電子顕微鏡には主に2つの種類があります。一つは、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）で、もう一つは走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）です。
TEMは、試料に電子線を照射し、透過した電子線を検出することで試料の内部構造を観察することができます。一方、SEMは、試料に電子線を照射して生じる反射電子や二次電子を検出することで試料表面の形態を観察することができます。
